蒋向前

姓名:蒋向前

电话:027-87557765-2509

职称:特聘教授

邮箱:x.jiang@mail.hust.edu.cn

个人基本情况

        蒋向前(Jiang Xiangqian,Distinguished Professor2012年当选英国皇家工程院院士。1995年在原华中理工大学获博士学位,其博士学位论文《曲面表面形貌检测理论与方法的研究》于1999年获首届“全国优秀博士学位论文”奖。蒋教授目前从事表面测试计量、滤波和拟合算法、光学仪器以及新一代产品几何规范等方面的研究工作。同时,蒋教授现任英国国家工程物理研究委员会(EPSRC)先进计量中心主任、英国哈德斯菲尔德大学精密计量学科的首席教授。

    蒋教授是国际生产工程学会会士(Fellow of CIRP)、英国工程技术学会会士(Fellow of IET)、国际标准化组织ISO/TC 213核心成员。蒋向前教授于2006年获得英国皇家学会颁发的“沃夫森研究成就奖(Wolfson Merit Award)”、英国“杰出亚洲女性”等荣誉称号,她于2006年作为为社会做出杰出贡献的人士获得英国女王在白金汉宫的接见。

主要研究方向

微纳米表面测量的基础理论及应用

先进光学仪器

自由曲面计量

信号处理

产品几何规范基础理论

技术及信息集成系统

开设课程

近年的科研项目、专著与论文、专利、获奖

承担的科研项目:

1. 高端表面形貌测量系列仪器研究与开发,科技部重大科学仪器设备研发专项

2. 基于本体的GPS信息语义互操作方法研究,国家自然科学基金

3. 基于范畴论的产品几何特征规范与认证集成智能平台研究,国家自然科学基金


荣誉与奖励:

教育部长江学者特聘教授

国家杰出青年基金获得者

全国百篇优秀博士论文获得者

全国高校互换性与测量技术研究会理事长

英国皇家工程院院士

英国哈德斯菲尔德大学EPSRC国家先进计量中心主任

国际生产工程学会会士(Fellow of CIRP)

英国工程和技术研究院会士(Fellow of IET)

英国皇家学会“Wolfson杰出研究成就奖”获得者

英国国家奖“英国亚洲女性杰出成就奖”获得者”


代表性著作:

1. Jiang, X. and Whitehouse, D. (2012) ‘Technological shifts in surface metrology’ CIRP Annals - Manufacturing Technology , 61 (2), pp. 815-836. ISSN 0007-8506

2. Jiang, X., Cooper, P. and Scott, P. (2011) ‘Freeform surface filtering using the diffusion equation’ Proceedings of the Royal Society, A , 467 (2127), pp. 841-859. ISSN 1364-5021

3. Jiang, X (2011) ‘In situ real-time measurement for micro-structured surfaces’ CIRP Annals - Manufacturing Technology , 60 (1), pp. 563-566. ISSN 0007-8506

4. Jiang, X (2010) ‘Robust solution for the evaluation of stratified functional surfaces’ CIRP Annals - Manufacturing Technology , 59 (1), pp. 573-576. ISSN 0007-8506

5. Jiang, X., Scott, P., Whitehouse, D. and Blunt, L. (2007) ‘Paradigm shifts in surface metrology. Part II. The current shift’ Proceedings of the Royal Society, A , 463 (2085), pp. 2071-2099. ISSN 1364-5021

6. Jiang, X., Scott, P. and Whitehouse, D. (2007) ‘Freeform surface characterisation - a fresh strategy’ CIRP Annals - 2007 , 56 (1), pp. 553-556. ISSN 1726-0604

7. Jiang, X., Scott, P. and Whitehouse, D. (2008) ‘Wavelets and their applications for surface metrology’ CIRP Annals - Manufacturing Technology , 57 (1), pp. 555-558. ISSN 0007-8506