常素萍

姓名:常素萍

电话:027-87557994

职称:讲师

邮箱:Changsp@mail.hust.edu.cn

个人基本情况

  常素萍(Chang Suping,Lecturer博士,讲师。1998年和2004年分别获得华中科技大学材料加工工程专业的学士和硕士学位,2007年获得华中科技大学测试计量技术及仪器专业博士学位,并留校任教,从事测量计量技术和精密仪器等方面的教学和科研。2008年获得华中科技大学优秀博士学位论文。现已承担和参加国家自然基金、863重点项目、国家重大仪器开发专项、湖北省自然基金、横向科研课题十多项,发表文章三十多篇,申请专利7项,授权专利4项。

主要研究方向

光学精密测量技术及仪器

表面测量及分析

精密工程


开设课程

互换性与技术测量(本科)

激光检测技术及仪器(本科)

精密测量的原理与技术(研究生)

先进仪器学(研究生)


近年的科研项目、专著与论文、专利、获奖

承担的科研项目:

1.钢板毛化表面形貌特征的区域法分析和评定理论的研究      2013.01-2015.12     国家自然科学基金(青年资助项目)

2.衍生多功能二、三维微纳图像综合测量系统2010.01-2012.12     国家自然科学基金(仪器项目)

3.微纳三维测量技术与装置的子课题—精密表面形貌测量      2008.10-2010.10     863重点项目

4.高端表面形貌测量系列仪器研究与开发2011.10-2015.9        国家重大科学仪器专项

5.三维表面形貌综合测量分析与评定2008.1-2009.12        湖北省自然科学基金重点项目


专利:

1.一种大量程直线型相位光栅轮廓测量位移传感器发明专利

2.一种激光相位光栅干涉位移传感器发明专利

3.一种白光干涉光学轮廓仪发明专利

4.一种基于显微白光干涉的纳米探针装置发明专利

5.一种基于激光显微干涉的多功能测量装置      发明专利

6.一种多探针平面度检测仪及其检测方法发明专利

7.一种触针式轮廓仪传感器非线性误差的校正方法发明专利


代表性著作:

1.A white light interference based atomic force probe scanning microscopy.        Measurement Science and Technology   2011

2.Scanning white-light interferometric measurement of free form surface based on interference fringe tracing.       Proc. of SPIE         2010

3.A controlled-force laser interference profilometer.     Proceedings of the SPIE   2011

4.Design and realization of controllable measuring force profilometer.        Proceedings of the SPIE   2010

5.Non-uniform interpolation and re-sampling for tactile scanning measurement.         Proceedings of the SPIE   2011

6.一种可控测量力的大量程激光干涉位移传感器.    计量学报         2010

7.大量程触针杠杆式轮廓仪的非线性误差分析和补偿      计量技术         2012

8.基于CPLD的测量控制系统的设计与实现.自动化与仪表.     自动化与仪表         2013

9.毛化表面的三维表面形貌在线测量仪      计量技术         2014

10.A novel contact and non-contact hybrid profilometer        Precision Engineering      2009

11.大行程纳米级共平面二维精密工作台的研究        机械科学与技术     2010