| 中文名称: | 双频激光干涉测量系统 |
英文名称: | Dual
Frequency Laser Interference Measurement System |
仪器编号: | 01310127 |
仪器型号: | STIF47A1 |
生产厂家: | 上海微电子装备有限公司
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放置位置: | 微纳加工与测量实验室 |
功能介绍
纳米级运动测量,测量工件台运动过程中的水平三自由度位姿,并实时反馈。
主要技术参数
·量程:1mm~10mm
·分辨率:0.15nm
·功能:3轴同步测量
·测量精度:优于10nm
·双轴干涉仪:
左入光 体积<115mm*90mm*42mm
·补偿方式:
波长跟踪器补偿
·数据输出:Ethernet
接口,提供API 程序接口,4 通道位移数据处理,位移数字输出
应用范围
广泛应用于机械、物理学、材料学等领域。